QM200 闪测仪
QM200 一键式影像测量仪，测量效率是传统影像仪的数十倍，工件可任意摆放无需建坐标系，支持多工件同时闪测与一键多层测量。设备搭载远心镜头系统，视场范围 190×120mm，重复精度达 4μm，配备拼接成像与自动对焦功能，可高效完成电路板等精密工件测量，并输出多样化检测报告。
产品详情
特点
测量效率比普通视频测量机快数十倍，只需点击即可完成测量
软件自带匹配功能，工件可以任意放置，无需构建坐标
多个工件可同时移动以实现闪光测量，实现高精度高效测量
软件具备拼接图像功能，能够实现对各种产品的快速扫描和测量，适用于电路板、印刷电路板行业或大型产品
软件可配备点激光器，完成产品高度测量，如段差、孔深、平整度等。
全球领先的自动对焦技术能够实现镜头自动对焦而无需手动调整，能够在程序中记录产品多层位置，实现多步骤产品的一键多层测量
实时数据报告提升测量效率，丰富报告输出。欢迎输出产品控制大小。
技术规格
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模型 |
QM200 |
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测量范围（毫米） |
190*120 |
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机器尺寸（毫米） |
600*750*1500 |
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玻璃台面尺寸（毫米） |
250*150 |
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净重（公斤） |
150 |
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工作距离（毫米） |
355 |
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视野（mm） |
190*120 |
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精度 FOV（微米） |
±6 |
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重复性视野（微米） |
± 4 |
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桌面载重（公斤） |
10 |
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Z步（毫米） |
55 |
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光学放大 |
0.068X |
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Z 型驱动 |
直流集成伺服电机 |
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Z轴运动 |
ContROL by Software |
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相机 |
2000万像素单色数码相机（USB 3.0接口） |
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透射光源 |
并行光路LED透射照明 |
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表面反射光源 |
LED环形反射照明系统 |
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表面同轴光 |
外部同轴LED反射照明系统 |
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测量软件 |
一键接合测量软件 |
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选项 |
白光共焦点光谱法 |
光学透镜系统
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视场 |
82x55毫米 |
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最大拼接行程（毫米） |
200*200/300*300 |
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支持 CCD 尺寸 |
（1 目标表面） |
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TV 畸变 |
<0.01% |
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CCD 连接接口 |
C-mount（C 接口） |
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最佳成像光圈数 |
6.5 |
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物方远心度 |
0.02 |
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